基于Phasics专利（专利号CN200780005898）的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7μm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x128测量点
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
4.紧凑：易于集成
应用：
透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir产品参数：
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波长范围
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0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
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通光孔径
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9.6 x 7.68 mm2
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空间分辨率
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60 μm
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采样点（相位/强度）
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160 x 128 (> 19 000 points)
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相位相对灵敏度
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<2nm RMS
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相位精度
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15nm RMS
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动?段?/span>
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100μM
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采样频率
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120 fps
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实时分析频率
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7 fps (full resolution)
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数据接口
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Giga Ethernet
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尺寸(w x h x l)
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100 x 55 x 63 mm
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重量
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455g
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